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半導體封裝新視界:環(huán)氧樹脂塑封與灌封工藝全解析


半導體封裝新視界:環(huán)氧樹脂塑封與灌封工藝全解析

前言

環(huán)氧樹脂,作為一類分子結構中蘊含環(huán)氧基團的高分子化合物,其固化后的環(huán)氧樹脂具有優(yōu)良的耐熱性、較高的機械強度、絕緣性、可靠力學性能及較小的收縮率、耐化學性,加入固化劑后又有較好的加工性和可操作性。

 

一、環(huán)氧樹脂的組成結構

環(huán)氧樹脂分子主要環(huán)氧基團和其它功能性基團構成,其中環(huán)氧基團是其特征基團。樹脂分子中通常含有兩個以上環(huán)氧基團。
 

 

步入半導體封裝技術的核心領域,注膠工藝與工藝作為兩大主流工藝路線,各自展現(xiàn)出了獨特的性能優(yōu)勢與適用范圍,為不同需求的半導體器件提供了定制化的封裝解決方案。接下來,我們將對這兩種工藝進行面解析。

 

、環(huán)氧樹脂工藝

2.1工藝

注塑工藝也稱為塑封工藝塑封是功率器件封裝中關鍵的工序之一。它的作用是將芯片、焊線、框架(內部)及基島包封起來,對芯片、焊線起到保護作用。防止機械外力損傷芯片以及防止芯片和焊線受潮。其主要原理是固體環(huán)氧樹脂塑封料在注塑筒內受熱軟化并變成液態(tài),液態(tài)環(huán)氧樹脂由注塑機構所產生的壓力注入到含有框架的模具型腔中,然后進行固化保壓和固化,形成特定的形狀,將芯片和焊線進行定型包裹。

 

半橋模塊塑封

 

2.2塑封工藝流程

1. Loading

將待封裝的芯片(Die)和引線框架(Lead Frame)裝入模具的模腔(Cavity)中。

 

2. Preheat(預熱)

模具下方的的Heating Element開始對模具進行預熱。通過加熱可以確保模具達到適合Injection molding的溫度,使得后續(xù)樹脂能更好地填充模具。

 

3. Clamp(合模)

當模具溫度達到預設溫度后,模具上下兩部分合模加壓,將模具牢牢夾緊。

 

4. Load and Transfer(裝載和材料轉移)

環(huán)氧樹脂被放置在模具外的容器中(Pot)。然后,在一定的壓力作用下,通過澆口(Gate Insert)將預熱后的液態(tài)環(huán)氧樹脂注入模具內。流動的環(huán)氧樹脂完全包裹芯片和引線框架,填充整個模腔。

 

5. Cure(固化)

環(huán)氧樹脂被注入模具后,需要通過加熱進一步固化,使其從半固態(tài)變?yōu)閳怨痰谋Wo外殼。

 

6. Demold(脫模)

固化后,模具被打開,完成塑封的器件從模具中取出。

 

7. Degate

后一步是去除塑封體周邊多余的環(huán)氧樹脂,比如:毛邊或澆口。

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塑封工藝流程

2.3塑封膠對設備的影響

全自動塑封封裝設備,噸位小、安裝模具空間小、主要應用產品封裝,設備自身成本高,保養(yǎng)費用高。在使用塑封設備封裝過程中,設備故障往往具有突發(fā)性,且大多數(shù)故障(95%~100%)發(fā)生在生產運行中,僅有少數(shù)(5%~15%)在設備運行前顯現(xiàn)。這種突發(fā)性故障對生產的影響極大。

 

芯片封裝模具是芯片生產不可或缺的一環(huán),它能夠對電路的性能、穩(wěn)定性起到重要的作用。不同的芯片需要不同類型的封裝模具。根據(jù)不同的封裝材料和制作工藝,半導體塑封模具主要分為無機模具有機模具兩大類

 

由于塑封芯片主要使用的是環(huán)氧樹脂,這種膠在未固化時通常有較高腐蝕性,在高溫高濕環(huán)境下容易發(fā)生膨脹和收縮,導致封裝材料與芯片、基島、導電膠或框架之間產生分層或開裂。這種分層或開裂會對設備造成磨損,特別是在設備運行過程中,摩擦和振動會加劇這種磨損,影響設備的正常運行和使用壽命。同時因為腐蝕會使設備出現(xiàn)漏洞、裂紋等問題

 

2.4 塑封中會出現(xiàn)的問題

1、分層問題

環(huán)氧塑封料與半導體封裝技術是保證芯片功能穩(wěn)定實現(xiàn)的關鍵材料,極大地影響了半導體器件的質量。其中會在封裝過程中會由于應力過高而出現(xiàn)與芯片、基島、導電膠或者框架分層或開裂,離子含量過高而使得芯片電性能失效等情況。其中,困擾半導體行業(yè)的一個重大難題之一就是分層問題,其真正的根本原因很難確定,有時會造成很大的經濟損失。

 

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分層問題

 

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開裂問題

 

2、封裝填充問題

料性能參數(shù)的差異、塑封模具膠口位置和流道設計不同、塑封工藝差異以及塑封產品結構設計(包括引線框架結構)的不同,會導致塑封中出現(xiàn)塑封體填充引線框架結構引起的填充等,從而降低產品良率產品氣密性,影響產品散熱。

 

目前半導體塑封芯片的合格率普遍低于90%的水平。影響這一合格率的關鍵因素主要包括:封裝材料的質量、生產工藝的成熟度、設備狀態(tài)的穩(wěn)定性以及人為操作的規(guī)范性。這些因素共同作用于生產流程中,對芯片的合格率產生重要影響。

 

、環(huán)氧樹脂真空注膠工藝介紹

灌封工藝是通過將液態(tài)的封裝材料注入到電子元器件的外殼與底座之間的空隙中,使其充分填充后進行固化,形成一個密閉的保護層。這個保護層可以有效隔絕外界環(huán)境對電子元器件的影響,同時也可以提供一定的散熱效果,降低電子元器件的工作溫度。

 

自動化灌封設備可以根據(jù)電子元器件的形狀和尺寸自動調整封裝材料的注入量,實現(xiàn)高效、灌封。這種方法適用于大批量生產,可以提高生產效率和產品質量。其工藝包括:產品預熱、原料脫泡預攪拌預處理、腔體抽真空、真空度達到設定值時按預設的工藝注入膠水。

 

準備產品 ? 預加熱 ? 灌封膠預處理 ? 真空灌封 ? 固化等工序。

真空注膠工藝原理視頻

 

因此,這兩種封裝工藝各有其獨特之處。相比之下,塑封工藝流程更為繁,在整個操作過程中對人員綜合能力要求較高,在操作過程中容易出現(xiàn)一些突發(fā)性問題,如:封裝方式、尺寸差異故障率高、和模具成本高保養(yǎng)費用高等。

 

而自動化灌封工藝則展現(xiàn)出了其顯著的優(yōu)勢。它能夠根據(jù)電子元器件的具體形狀和尺寸,自動調整封裝材料的注入量,從而實現(xiàn)高效且**的灌封作業(yè)。工藝不僅操作更為簡便,而且更加智能化,大大減輕了操作人員的負擔。同時,設備具備較高的穩(wěn)定性和可靠性,減少了設備故障的發(fā)生,也降低了設備的維護需求。

 

環(huán)氧樹脂真空工藝和塑封工藝

4.1、半導體模塊的分類

導體模塊可以分為單管模塊、半橋模塊、全橋模塊等等。這些結構和封裝技術對于電控系統(tǒng)的效率和性能有著直接影響。下面我們主要來對比一下SiC橋模塊和HPD全橋模塊在封裝技術上的區(qū)別。

 

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4.2半橋和全橋封裝工藝對比

國內比亞迪、蔚來和小米外,北汽、長安、賽力斯、長城等車企也在主驅中導入SiC半橋模塊。市面上的SiC半橋模塊采用的是半橋塑封工藝,封裝通常由芯片、絕緣基板、散熱基板、鍵合材料、密封劑和外殼等組成。方式則更靈活,配合銀燒結、塑封轉模等關鍵技術,不僅可實現(xiàn)更均勻的電流密度分布,而且熱容熱阻和雜散電感等方面表現(xiàn)也更好。

 

12月23日,蔚來發(fā)布新的旗艦車型ET9,該車型搭載了1200V SiC功率模塊,采取半橋塑封工藝,功率模塊密度1315kW/L,擁有高達30萬次的功率循環(huán)能力。去年5月,蔚來與安森美達成合作,采購其VE-TracTM Direct SiC功率模塊,該模塊搭載了**代SiC MOSFET技術,采用HPD封裝形式。也就是說,蔚來此前的SiC車型主要采用HPD模塊,而從ET9開始轉向SiC半橋模塊。

 

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但是將塑封半橋封裝技術應用于SiC半橋模塊時仍面臨著一系列技術挑戰(zhàn),包括寄生參數(shù)、模塊散熱和電磁干擾,封裝可能會產生裂縫或分層、填充問題。

 

目前,商用的車規(guī)級SiC功率模塊多采用基于硅器件的傳統(tǒng)模塊注膠封裝技術,HPD全橋模塊由多個單管、二極管等元件封裝在一起形成,三相全橋HPD(High Power Device)模塊仍是主流,作為新能源汽車上車規(guī)級IGBT功率模塊*成熟的封裝形式。

 

SiC半橋模塊和全橋模塊在封裝技術上也存在差異,主要涉及到散熱方式、封裝結構、工藝和成本等方面。HPD全橋模塊可能需要在散熱和功率處理方面進行更復雜的設計和優(yōu)化,以確保高效、可靠的性能表現(xiàn)。而半橋模塊則可能在成本和體積上更具優(yōu)勢,適合對成本敏感的應用場景

 

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XX品牌注膠分析報告

 

根據(jù)以上注膠環(huán)氧樹脂的測試數(shù)據(jù)與塑封功率半導體的其他測試經驗對比,兩種封裝方式的材料本身在功率循環(huán)與溫度循環(huán)性能方面均表現(xiàn)出色

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IGBT模塊類別

 

、環(huán)氧樹脂工藝面臨技術挑戰(zhàn)

環(huán)氧樹脂注膠工藝非無懈可擊,環(huán)氧注膠后可能面臨的氣泡問題、電線故障、較大的固化收縮率,以及IGBT模塊在溫度沖擊下易出現(xiàn)的、脫離與形變等挑戰(zhàn),均對封裝效果與長期可靠性構成了潛在威脅。

 

環(huán)氧樹脂具備較高的導熱率,其粘度通常在10~20WmPa.s導熱膠含有大量帶磨損性的填料,以經典的導熱填料氧化鋁為例,它的莫氏硬度高達9.0,這一硬度包括高碳鋼在內的絕大多數(shù)高硬度金屬因此,膠體中這些堅硬的導熱填料會劇烈對設備造成嚴重的磨蝕,進而引發(fā)點膠泵的漏膠與精度問題。

 

為了攻克這些技術難題,我們的技術團隊憑借20年積累的豐富經驗,對環(huán)氧樹脂注膠工藝進行了深入的研究和實踐。IGBT模塊為例說明,基于對環(huán)氧樹脂膠水的特性研發(fā)核心件,們采用了XETAR欣音達三段式真空注膠設備,并配備精度螺桿泵(轉子采用莫氏硬度9.4Si3N4氮化硅,定子選用高耐磨的NBR橡膠實現(xiàn)螺桿泵3年免維護,有效地解決了泵的漏膠精度問題并實現(xiàn)了精準控制。

 

同時,我們對工藝流程進行了優(yōu)化和升級。成功降低了固化過程中的收縮率,顯著提升了固化產品的尺寸穩(wěn)定性與機械強度。同時有效避免了氣泡的產生。固化后的產品表面光滑平整,未出現(xiàn)開裂、脫離或形變等任何問題。

XETAR欣音達環(huán)氧樹脂膠工藝視頻

 

此外使用該系統(tǒng)優(yōu)化后的工藝每天能高效產出高達2000,合格率99.99%。極大地提升了生產效率,并顯著縮短了生產周期。這一系統(tǒng)特別的適合大規(guī)模的生產和應用場景為我們的生產流程帶來了改變。

 

、結語:

綜上所述,封裝技術領域內,塑封與注膠作為兩種截然不同的封裝工藝,塑封技術的成熟度將會直接影響塑封器件的使用壽命,SiC半橋模塊在封裝技術和工藝上面臨很大的挑戰(zhàn)。而注膠工藝則更加成熟、可靠,目前HPD全橋模塊注膠工藝仍IGBT功率模塊成熟的封裝形式。

從目前的工藝模式上看,環(huán)氧樹脂注膠在實際生產中更容易實現(xiàn)可靠穩(wěn)定的工藝性。因為不需要由不同封裝產品定制不同注塑模具,可以低成本高可靠性實現(xiàn)一臺注膠設備適應多種封裝產品。相對塑封工藝,注膠工藝在設備上的投入成本更低,設備可靠性更高和可維護性成本更低。一臺可靠的注膠設備和配套的基礎工藝就可以實現(xiàn)多種封裝產品的99.99%以上的生產良率。同等級產品而言,塑封工藝需要較高的設備成本投入,因為要保證及其的壓力/注塑量/時間/溫度等控制,對塑封料本身的容錯率較低,因此目前塑封工藝的成品良率還是低于90%。

 

綜合考慮功率半導體本身的功能性差異,設計結構的差異等方面,塑封工藝和注膠工藝各有千秋,并不能相互取代。比如無邊框設計時可能使用塑封工藝更佳。

 

或許在不遠的將來,出現(xiàn)功率模塊,開關控制器,PCB等多功能合成模塊時,注膠工藝將能體現(xiàn)出的優(yōu)勢。

 

在追求高效能與穩(wěn)定性的電子封裝領域,離不開其高品質的硬件設備和,更離不開成熟的工藝和可靠的性能。


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